深圳市谷易电子有限公司为您提供测试夹具订做相关信息,ic测试座的设计、制造、维护都由企业承担。在产品开发过程中，我们坚持以科技进步为导向,以提高产品质量为核心。坚持用技术改造传统产业,不断创新。通过技术创新，我们在产品研发上取得了一些突破。如在计划的支持下，自主开发了具有自主知识产权的超大型集成电路芯片和超高性能数字显示器件。目前，我公司拥有多项专利。公司拥有一批具有较强竞争力、技术水平于同行业其它企业的核心技术。FPC测试夹-可以满足一般测试要求。芯片测试座的设计和制造方法采用高精度的定位槽、导向孔和导向孔，可以更换限位框，高精度的定位槽和导向孔，可以满足一般测试要求。芯片测试座产品特点13微米工艺制造微米工艺制造，25微米工艺制造。产品外形尺寸长×宽×高15×0×5毫米。芯片测试座的工作温度℃～+℃，℃～+℃，℃～+℃。产品性能05微米工艺制造微米工艺制造。可以在任意位置使用。本品采用的电阻式触摸屏,可以直接在屏幕上显示触摸屏的图形，无需任何操作就能轻松地实现触控。此外本品还有一些特色功能，如可自动识别、调节和调整键盘的大小等。本品具有多重智能化设计,可根据户不同需求进行定制。

FPC测试夹产品特点芯片测试座主体为下压结构合金探针,可以更换限位框，高精度的定位槽和导向孔。封装设计主体为上压结构合金探针，可以更换限位框，高精度的定位槽和导向孔。●封装设计主体为下压结构合金探针,可以更换限位框，高精度的定位槽和导向孔。封装设计主体为下压结构合金探针，可以更换限位框。封装设计主体为下压结构合金探针，可以更换限位框。封装设计主体为上压结构合金探针，可以更换限位框。封装设计主体为上压结构合金探针,可以更换限位框。

测试夹具订做,FPC测试夹测试时间每次测试时间不超过3分钟。测试方式采用高频率、低频率的方式。使用寿命普通交期0~2年。适用于测量、烧录、老化。使用寿命普通交期3~5年，定制交期0~4个工作日。使用寿命普通交期5年。适合于各种场合。采取高低温范围的方式。测试方式在线模拟、模糊测试。测试范围常规°c~+°c，更高温度可定制。适用于高低温°c~+°c，更高频率可定制。交期普通交期3~5天，定制交期6个工作日。使用寿命普通交期3~5天。适用于高低温°～+℃,更高频率可定制。

FPC30-1.0测试夹定制,FPC测试夹可以满足一般测试要求。芯片测试座的设计和制造方法采用高精度的定位槽、导向孔和导向孔，可以更换限位框，高精度的定位槽和导向孔，可以满足一般测试要求。芯片测试座产品特点13微米工艺制造微米工艺制造，25微米工艺制造。产品外形尺寸长×宽×高15×0×5毫米。芯片测试座的工作温度℃～+℃，℃～+℃，℃～+℃。产品性能05微米工艺制造微米工艺制造。可以在任意位置使用。本品采用的电阻式触摸屏,可以直接在屏幕上显示触摸屏的图形，无需任何操作就能轻松地实现触控。此外本品还有一些特色功能，如可自动识别、调节和调整键盘的大小等。本品具有多重智能化设计,可根据户不同需求进行定制。